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电镜sem电子显微镜表面分析金属成分分析失效分析设备高倍率显微镜

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详细介绍

hitachi是日本知名企业在电子显微镜领域一向以技术潮流着称:1972年发布台场透射电子微镜,经过30多年的发展,日立开发、应用了大量的新技术,例如电子枪多重偏压、浸没式(in-lens)、半浸没式(semi in-lens)物镜、e x b式探测器,电子减速功能等等。推出了一系列性能优异、应用广泛的新型号电镜,受到了用户的一致好评。hitachi公司除在日本有自己的研法制造中心外,在北美和欧洲也拥有研究开发中心,在六十多个国家经营销售、技术支持和提供维修服务。 hitachi公司将纳米尺度呈献给研究人员和生产厂商。 ????在成功推出s-3000系列后,推出新型s-3400n型钨灯丝sem,它集成了hitachi多年开发的新技术,例如新型电子枪、大锥角物镜、5分割半导体式背散射探头、物镜光阑自动合轴等等,极大地提高设备的性能和应用扩展能力、使操作和维护更加简易。 ????s-4800属于场发射sem,它集成s-4700和s-5200型的优点,采用新型e x b式探测器和电子束减速功能提高了图像质量,特别是低电压的图像分辨率;新型的透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式。 ????作为扫描电镜配套的能谱分析仪器,我们供应日本horiba公司或美国edax公司的产品。 s-4800场发射sem系统: 1. 分辨率:二次电子(se)成像:高真空模式:1.0 nm (15kv)、1.4~2.0 nm (1kv)2. 放大倍率:低倍模式20 ~2,000倍;高倍模式100 ~800,800倍 3. 电子枪:冷阴极场发射电子源,束流1pa–2na;加速电压:0.5~30 kv;3级电磁透射会聚系统 4. 样品室可容纳样品左右直径200 mm,同心样品台,四轴自动,可安装eds、冷却台附件 5. 移动大范围:x = 110 mm /y = 110 mm /z =1.5~40.0mm /r=360°;倾斜t:范围不小于-5°~70°(手动) 6. 探测器:二次电子检测器、固体背散射电子检测器;样品室 ir-ccd 相机 7. 图像扫描:不低于5120×3840像素;图像显示1280×960像素
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